EN 62276-2005 用于表面声波装置的单晶硅片.规范和测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 15:29:13  浏览:8418   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Singlecrystalwafersforsurfaceacousticwave(SAW)deviceapplications-Specificationsandmeasuringmethods(IEC62276:2005);GermanversionEN62276:2005
【原文标准名称】:用于表面声波装置的单晶硅片.规范和测量方法
【标准号】:EN62276-2005
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006-04
【实施或试行日期】:2006-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:声波;晶体点阵;晶体(电子);定义;电气工程;电性能;电性质和电现象;电子设备及元件;精整;频率稳定;测量;测量技术;压电器件;压电;石英晶体;额定值;单晶;规范(验收);规范;表面声波装置;表面声波;试验;薄片
【英文主题词】:Acousticwaves;Crystallattices;Crystals(electronic);Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalproperties;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Finishes;Frequencystabilization;Measurement;Measuringtechniques;Piezoelectricdevices;Piezoelectricity;Quartzcrystals;Ratings;Singlecrystal;Specification(approval);Specifications;Surfaceacousticwavedevices;Surfaceacousticwaves;Testing;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L21
【国际标准分类号】:31_140
【页数】:38P.;A4
【正文语种】:英语