ASTM F416-1994 抛光硅圆片中检测氧化引起缺陷的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 05:58:46 浏览:8544
来源:标准资料网
【英文标准名称】:TestMethodforDetectionofOxidationInducedDefectsinPolishedSiliconWafers
【原文标准名称】:抛光硅圆片中检测氧化引起缺陷的测试方法
【标准号】:ASTMF416-1994
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;垫圈;缺陷与故障;氧化;硅;电子工程;玻璃的
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 医用电气设备 第2部分: 体外引发碎石设备安全专用要求 |
| 英文名称： | Medical electrical equipment—Part 2:Particular requirements for the safety of equipment for extracorporeally induced lithotripsy |
| 中标分类： |
医药、卫生、劳动保护 >>
医疗器械 >>
医用电子仪器设备 |
| ICS分类： |
医药卫生技术 >>
医疗设备 >>
医疗设备综合
|
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2003-06-24 |
| 实施日期： | 2003-12-01 |
| 首发日期： | 2003-06-24 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国家食品药品监督管理局 |
| 提出单位： | 全国医用电器标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国医用电器标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 国家医疗器械质量监督检验中心 |
| 起草人： | 俞及、俞西萍、张荣昌 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2003-12-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：35， 字数：70千字 |
| 书号： | 155066.1-19826 |
适用范围
本标准适用于体外引发碎石设备的安全。本标准的适用性限于直接涉及碎石医疗的部件。本标准等同采用IEC 60601-2-36:1997，应与GB 9706.1-1995一起使用。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 医药 卫生 劳动保护 医疗器械 医用电子仪器设备 医药卫生技术 医疗设备 医疗设备综合
【英文标准名称】:AdministrativeControlsandQualityAssurancefortheOperationalPhaseofNuclearPowerPlants
【原文标准名称】:核电站运行期的质量保证和行政管理
【标准号】:ANSI/ANS3.2-2006
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2006-07-31
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANS
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:核电厂;核技术;质量保证;规范(验收)
【英文主题词】:Nuclearpowerplants;Nucleartechnology;Qualityassurance;Specification(approval)
【摘要】:Thisstandarddefinesqualityassuranceprogramrequirementsforoperatingcommercialnuclearpowerplants.Thisrevisionexpandsrequirementstoprovidecriteriaforrisk-informingqualityassuranceprograms.
【中国标准分类号】:F00
【国际标准分类号】:03_120_10;27_120_99
【页数】:
【正文语种】:英语
